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ML-200S涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)

更新時(shí)間:2024-10-18      點(diǎn)擊次數(shù):205

ML-200S涂層測(cè)厚儀

儀器特點(diǎn):

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(Free running mode)和單次測(cè)量方式

具有三種測(cè)量模式:高精度測(cè)量模式可對(duì)多次測(cè)量取平均,并對(duì)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)過濾,可確保測(cè)量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測(cè)量模式可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)掃描功能。

具有溫度補(bǔ)償功能:實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動(dòng)對(duì)環(huán)境溫度及測(cè)頭溫度改變引起的測(cè)量誤差進(jìn)行補(bǔ)償,使測(cè)量更準(zhǔn)確。

設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。

可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。

具有存儲(chǔ)功能:Z多可存儲(chǔ)500個(gè)測(cè)量值。

具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。

可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警。 

具有電源電量指示功能。

操作過程有蜂鳴聲提示。

設(shè)有三種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式、超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)方式以及低電量自動(dòng)關(guān)機(jī)方式,并可設(shè)置超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)等待時(shí)間

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍及測(cè)量誤差

技術(shù)參數(shù)表(H為厚度標(biāo)稱值)

       測(cè)頭類型

F

N

       工作原理

磁感應(yīng)

渦流

測(cè)量范圍(μm)

0~2000

0~1500

銅上鍍鉻 0~40

 低限分辨力(μm)

0.1

0.1

示值

  零點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

  兩點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1]

測(cè)試條件

Z小曲率半徑(mm)

凸1.5

凸3

  Z小面積的直徑(mm)

Φ7

Φ5

基體臨界厚度(mm)

0.5

0.3

 

使用環(huán)境

溫度:0℃~40℃

濕度:20%RH~90%RH

無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境

電源

二節(jié)5號(hào)堿性電池(1.5V)

外型尺寸和重量

外形尺寸:151mm×76mm×38mm

重量:約240g(不含電池

 

ML-200S涂層測(cè)厚儀


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